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多通道電流矩陣模塊高壓功率放大器鐵電分析儀塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 絕緣電阻率測(cè)試儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀電壓擊穿測(cè)定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)

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HCDH-3華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀CTI/PTI

更新時(shí)間：2025-06-06

型號(hào)：HCDH-3

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華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀，是指在固體絕緣材料表面，在電場(chǎng)和電解液的聯(lián)合作用下逐漸形成導(dǎo)電通路的過程。這個(gè)過程被稱為漏電起痕，而絕緣材料表面抗漏電起痕的能力則稱為耐漏電起痕。漏電起痕試驗(yàn)是評(píng)估絕緣材料在特定條件下的耐漏電性能的一種方法，通過模擬在潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的環(huán)境，測(cè)定材料的相比漏電起痕指數(shù)（CTI）和耐電痕化指數(shù)（PTI）。華測(cè)高壓漏電起痕測(cè)試儀CTI/PTI
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Huace-4華測(cè) 簡易探針臺(tái)

更新時(shí)間：2024-12-12

型號(hào)：Huace-4

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華測(cè) 簡易探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)（chuck）上，在顯微鏡配合下，X-Y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置。
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HCWP寬頻高溫介電溫譜儀/絕緣電阻

更新時(shí)間：2024-12-12

型號(hào)：HCWP

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寬頻高溫介電溫譜儀/絕緣電阻，滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。從專業(yè)角度來說，其實(shí)就是高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于一體.
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HCZDJC-50-600050點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-04-03

型號(hào)：HCZDJC-50-6000

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50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀主要用于電氣用鋰電池隔膜，聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿電壓值。
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HCDH-4耐電弧試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-12-31

型號(hào)：HCDH-4

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耐電弧試驗(yàn)儀是專門為電氣絕緣材料測(cè)試而開發(fā)的高精密設(shè)備，絕緣材料抵抗由高壓電弧作用引起變質(zhì)的能力，通常用標(biāo)準(zhǔn)電弧焰在材料表面引起炭化至表面導(dǎo)電而電弧消失所需時(shí)間表示，單位是秒。
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Huace-4華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái)

更新時(shí)間：2024-12-12

型號(hào)：Huace-4

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Huace FE-3000鐵電分析儀/可搭載高壓放大器高低溫探針臺(tái)

更新時(shí)間：2025-09-15

型號(hào)：Huace FE-3000

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鐵電分析儀/可搭載高壓放大器高低溫探針臺(tái)，Huace FE主機(jī)在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線、脈沖、漏電流、IV、CV、擊穿測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、TSDC和電卡、阻抗分析、電阻測(cè)量等特性測(cè)試功能。
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HCDJC-100KV工頻電壓擊穿測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-08-11

型號(hào)：HCDJC-100KV

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工頻電壓擊穿測(cè)試儀采用計(jì)算機(jī)控制，采用人機(jī)對(duì)話方式完成對(duì)絕緣介質(zhì)的工頻電壓擊穿，工頻耐壓試驗(yàn)，主要適用于固體絕緣材料（如：硅橡膠、絕緣漆、環(huán)氧樹脂、纖維制品、云母及其制品、塑料復(fù)合制品、陶瓷和玻璃等）介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐壓時(shí)間的測(cè)試；
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