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國(guó)標(biāo)設(shè)備

電壓擊穿測(cè)試儀耐電弧試驗(yàn)儀高壓、低壓漏電起痕表面體積電阻率（高阻計(jì)）電弱點(diǎn)試驗(yàn)儀 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀

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HCDH-200、300耐漏電起痕試驗(yàn)儀測(cè)試儀器

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耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器

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工程塑料、耐漏電起痕HCDH-200測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-03

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電弱點(diǎn)測(cè)試儀華測(cè)實(shí)驗(yàn)儀器有限公司HCRD

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電弱點(diǎn)測(cè)試儀華測(cè)實(shí)驗(yàn)儀器有限公司HCRD-20kv：該儀器是根據(jù)薄膜的使用寬度進(jìn)行電弱點(diǎn)的測(cè)試，測(cè)試寬度可根據(jù)用戶的要求而設(shè)定，無須將膜分切成小卷，免除了許多外來因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。測(cè)試數(shù)據(jù)能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水平。有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0～40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。
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電弱點(diǎn)測(cè)試儀器HCRD-300

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Huace-300表面體積電阻率測(cè)試儀北京華測(cè)*

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絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀Huace-300

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表面體積電阻率測(cè)試儀Huace-300

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