高溫四探針測(cè)試儀結(jié)構(gòu)組成及應(yīng)用范圍概述
更新時(shí)間：2021-01-25 點(diǎn)擊次數(shù)：2065
高溫四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。
是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的阻抗特性測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測(cè)量軟件組成，包括高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫四探針夾具、電阻率測(cè)試儀和高溫電阻率測(cè)量系統(tǒng)軟件四個(gè)組成部分。
測(cè)試應(yīng)用范圍
高溫四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。根據(jù)不同材料特性需要，配有多款測(cè)試探頭：
1）高耐磨碳化鎢探針探頭，測(cè)量硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；
2）球形鍍金銅合金探針探頭，測(cè)量柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻；
3）配合四端子測(cè)試夾具，測(cè)量電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻；
4）高溫四探針測(cè)試儀探頭可測(cè)試電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。
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