何時采用非接觸式測量電壓？

   傳統(tǒng)非接觸式靜電測試儀包括電極式、振動電容式、場磨式等。其中，電極式靜電儀直接通過電路對單一感應電極上的電荷信號進行放大、AD采樣，由于電荷信號容易在電路中衰減，該靜電儀零點漂移大，需經(jīng)常調(diào)零，使用不便。振動電容式、場磨式靜電儀通過振動或轉動調(diào)制感應電極上的感應電荷，測量帶電體附近的電場強度，反演帶電體的靜電電壓，避免了感應電荷衰減。然而，這些靜電測試儀普遍將傳感器敏感芯片裸露在外，這些裸露可動單元容易在粉塵等惡劣環(huán)境中損壞，也容易因自身摩擦或與外界碰撞產(chǎn)生電火花，造成隱患。靜電危害是科技和生產(chǎn)活動中的一個重大隱患。不同物質(zhì)間接觸、分離后即可產(chǎn)生靜電，由于其產(chǎn)生簡單、不易發(fā)覺，稍有不慎就可能釀成重大事故。據(jù)統(tǒng)計，美國電子行業(yè)部門每年因靜電危害造成損失高達100億美元，英國電子產(chǎn)品每年因靜電造成的損失為20億英鎊，日本電子元器件的不合格品中不少于45％的危害是因為靜電放電(ESD)造成的。靜電放電可能點燃某些易燃物體而發(fā)生爆炸。例如，在石油石化領域，人體或設備攜帶靜電容易引燃油品揮發(fā)出的氣體，油品、粉體在儲運過程中與周圍容器發(fā)生摩擦，也容易產(chǎn)生大量靜電。在工業(yè)生產(chǎn)領域，氫氣、乙炔、瓦斯等易燃易爆氣體，煤粉、鋁粉、面粉等粉塵，都有可能因靜電火花引起爆炸。在電子工業(yè)領域，一般MOS電路和場效應管擊穿電壓約為300V，然而在干燥季節(jié)人體靜電可達數(shù)萬伏，極易損傷甚至損壞半導體器件，從而導致設備故障。